Mar 26, 2025 Hagyjon üzenetet

OWON 4. generációs többfunkciós digitális foszfor oszcilloszkóp

 

Alapvető műszaki innovációk

 

● Ultra{0}}alacsony zaj és nagy felbontás

X-Vision III architektúrát használ 200 μV-os alapzajjal, lehetővé téve a precíz μV{2}}szintű jelelemzést.

●12 bites függőleges felbontás(16 bitesre bővíthető továbbfejlesztett módban), támogatja a nagy dinamikatartományú jelrögzítést.

● Nagy mintavételi és tárolási kapacitás

Sávszélesség: 20MHz–500MHz (pl. ADS3000 sorozat); Valós idejű mintavételi sebesség akár 2,5 GSa/s; A 100 Mpts tárolási mélység hosszú-időtartamú hullámforma rögzítést biztosít.

●Hullámforma rögzítési sebesség: 500 000–750 000 wfms/s (Sequence módban), jelentősen javítva az átmeneti rendellenességek észlelését.

● Hibrid jelelemzés

Támogat 4 analóg + 16 digitális csatornát hardveres-gyorsított I2C/SPI/CAN/LIN protokoll dekódolással a valós idejű-buszjel-elemzéshez. Speciális triggerelési módok: él, impulzus, ablak, logikai és protokoll triggerek.

Kulcsfontosságú alkalmazások

 

● Új Energy & Power Design

μV{0}}szintű pontosság a fotovoltaikus inverter MPPT hatékonyságának elemzéséhez és az energiatároló rendszer hurokválaszának teszteléséhez.

●Autóelektronika

Hardveresen{0}}dekódolt CAN FD/LIN buszjelek az ECU jelintegritásának ellenőrzéséhez és az érzékelőzaj diagnosztizálásához.

●5G és nagy{1}}sebességű kommunikáció

Támogatja a PCIe 6.0 jitter elemzést és az RF jelspektrum elemzést a távközlési kutatás-fejlesztéshez.

● Kutatás és oktatás

A költségvetési modellek integrálják az FFT elemzést és a Lissajous mintagenerálást az egyetemi laborok számára.

Versenyelőnyök

 

●Költséghatékony{0}}honosítás

● Szoftver ökoszisztéma

Távvezérlés SCPI parancsokkal és LabVIEW integrációval; támogatja az automatizált tesztmunkafolyamatokat.

Technikai fejlődési trendek

 

Intelligens diagnosztika

Zöld tesztelés

Optoelektronikai integráció

 

 

A szálláslekérdezés elküldése

Haza

Telefon

E-mailben

Vizsgálat